Курс лекций для магистров
«Зондовая микроскопия:
методы, теория, приложения»
36 часов, первая лекция в феврале 2018
Курс предназначен для студентов факультета наук о материалах. В курсе
рассмотрены основные методы современной зондовой микроскопии, физические
принципы, лежащие в основе их работы, а также освещен широкой круг приложений
зондовой микроскопии к актуальным задачам физической химии поверхностей, физики
наноструктур, полимеров и биологии.
В первой части курса
рассматриваются проблемы визуализации поверхностей и картографирования их
свойств методами атомно-силовой микроскопии. Второй раздел посвящен изучению
электронных свойств структур методами сканирующей туннельной микроскопии и
спектроскопии. В третьей части разбираются вопросы, относящиеся к применению
зондовой микроскопии для исследования поверхности твердых тел, наноматериалов, полимеров, биологических объектов, нанолитографии, манипуляции атомами на поверхности и
электронами в наноструктурах.
Лекторы
·
к.х.н., научный сотрудник Синицына
Ольга Валентиновна, лаборатория физической химии полимеров ИНЭОС РАН; кафедра
высокомолекулярных соединений химического факультета МГУ;
·
к.ф.-м.н., научный
сотрудник Мешков Георгий Борисович, кафедра физики полимеров и кристаллов
физического факультета МГУ;
· к.ф.-м.н.,
старший научный сотрудник Гиндикин Яков Владимирович,
лаборатория теоретических проблем микроэлектроники ФИРЭ РАН.
Дополнительная информация:
E-mail: sinitsyna@gmail.com
Лекция 1. История зондовой микроскопии и
яркие примеры ее применения
Лекция 2. Инструментарий зондовой
микроскопии
Лекция 3. Атомно-силовая
микроскопия
Лекция 4. Обработка изображений
Задание
2. Файлы для обработки
Лекция 5. Динамические
режимы атомно-силовой микроскопии (часть 1)
Лекция 6. Динамические
режимы атомно-силовой микроскопии (часть 2)
Лекция 7. Силовая спектроскопия. Часть 1.
Лекция 7. Силовая спектроскопия. Часть 2.
Лекция 8. Электросиловая и
сканирующая резистивная микроскопия
Лекция 8а. Электросиловая микроскопия
Лекция 9. Кельвиновская
микроскопия. Сканирующая туннельная микроскопия
Лекция 10. Сканирующая
туннельная спектроскопия
Лекция 11. Сканирующая
тепловая и термоэлектрическая микроскопия. Кантилеверные
сенсоры